太陽光パネル製造は設備を導入するだけの「ターンキー生産（キーを回すだけで生産できること）」と言われ、最新の設備を大規模に導入した会社が有利と見られていました。そこに目を付けた中国の会社が、大資本を投入して設備を導入しました。記事では中国の最新の設備の状況が報告されています。

中国の目論見は当たり、今では世界の太陽光パネルメーカーのトップ10のうち8社を中国が占め、まさに世界を席巻している状況です。元々は日本が世界を席巻していたのですが、中国にうまくやられてしまいました。残念な現実ですね。

何とか巻き返したいところと言っても、記事にもあるように期待の新技術HITも既に基本特許期間が切れ、中国でコピーが始まっています。日本得意の技術で勝つのも難しいかと思いましたが、その後、記事に「一部の太陽光パネルは20年持たない可能性がある」という言葉があるのを見つけました。この言葉、暗に中国のパネルは20年持たない可能性があると言っているようなものですね。

いや、実は私もそういうことを感じていました。スネイルトレイルが中国のパネルで多発しているのを見て、これは何かあるかもしれないと思い、いろいろな発電所のデータをずっと追いかけ分析していたのですが、あまり変化が見られず、昨年あたりから分析はサボっていました（笑）。ただデータは追いかけていまして、なんとなく最近のデータはばらつきが多くなっているような気がしています。

また分析をしてみようかなぁ・・・。しかし、これ、結構面倒なので・・・、ちょっと覚悟して取り組まないといけないから・・・。

PERCというのはセルの裏面側の電流損失を減らすために保護膜で覆うのですが、全面を保護膜で覆うと電流が取り出せないので、細かい穴を無数に開けてそこから電流を取り出すという複雑な構造になっています。そういう無理な構造が原因になり劣化したのですかね。判りませんが・・・。

一方、HITの構造はシンプルですが、使っている膜がアモルファスSiと劣化がある材料なので心配はあります。ただ、今のところHITに劣化が多いという話はありません。

PERCとHITは同じ頃に（確か90年代）開発された技術で、PERCは欧州で、HITは日本で開発されました。この二つの技術は、いわば、ライバルのような関係ですが、世界ではPERCの方が主流で、HITは日本と中国の一部の会社が採用しているぐらいです。HITが劣勢なのが残念だなと思っていましたが、これでHITが巻き返してくれたら良いなと思います・・・、日本人ですからね。

歓迎できるニュースですが、記事を見ると純研究的な話なので実際の実用化はまだ遠いのかなという印象を受けます。信頼性改良の内容については定性的な説明が多い中で、「35℃の連続光照射下でも、初期性能の90%を1300時間以上維持できた」というところが唯一の定量的な説明です。連続光は多分1kW/m2の光だと思いますが、日本では1年間でこの強度の光が1200-1300時間照射していますから、これだとやはり実用化は遠いかなという気がします。1年で劣化が10%以内と言うとペロブスカイトとしてはかなり改善されたと見るべきなのでしょうが、今の結晶シリコン太陽電池の劣化は1年で0.5%ほどと言われていますから、まだまだ差は大きいですね。

発明以来、急激に変換効率が向上して、世界の注目を浴びたペロブスカイト太陽電池ですが、最近少し停滞気味です。日本人が発明したものなので頑張ってほしいのですが・・・、さてどうなるでしょう。

ハッキリ言って太陽光発電で中国に活躍されるのは妬ましいのですが、世界の6割のパネルを生産するほど暴れまわっているのですね（世界のトップをばく進する中国の太陽光産業、ソーラーパネル）。太陽光パネルは装置産業的なところがあり、その割には技術的にも資金的にも取り組み易いところがありますので、そこに目を付けた中国があっという間に市場を制覇してしまったという感じですか。

少し生産しすぎて値崩れを引き起こしている傾向さえあるのは、ユーザーとしては歓迎できるのですが、日本のメーカーも苦しくなるのは困りますね。

もっと技術的に難しい太陽電池で差を付けようとするのは当然の流れで、そのため太陽電池の技術開発が行われていますが、今のところ有望な技術はPERCやヘテロ接合ぐらいでしょう。ヘテロ接合は日本の（パナソニックの）独自技術ですが、PERCは世界中に普及していて中国も頑張って導入しつつあります。日本が中国に勝つには、ヘテロ接合がPERCよりずっと優れていたら良いのですが、変換効率ではまだあまり変わりませんね。（でも、勝てる可能性はあります。そこには期待しています。）

で、 中国の製品には信頼性の不安が付きまといます。一時期の中国パネルはひどかったですからねぇ。今ではかなり良くなっているようですが、それでもスネイルトレイルなどは中国パネルに多く見られる現象です。ただ、スネイルトレイルが発生して発電特性が落ちたという話を私はまだ聞いたことがありません。中国のメーカーもそれを知ってか、スネイルトレイルに対しては強気です。

これ感心しないなぁ。本当にスネイルトレイルのパネルは5年、10年経っても大丈夫なのでしょうか。スネイルトレイルはマイクロクラックが原因で発生すると言われていますが、マイクロクラックがあるなんて劣化しそうで不安ですね。中国のメーカーはどう思っているのかなぁ。と言いながら、私は信頼性で日本のメーカーが勝ってくれることを望んでいます。

SAYURI-PVというのはSustainable Actions for “Year by year aging” Under Reliablity Investigations in PhotoVoltaic modules の略だそうです。産総研が行ったシンポジウムで、パネルの長期信頼性に関する報告です。10月4日、5日に行われましたが、私は都合で4日だけに参加しました。参加は無料ですが、予稿集は無くプログラムだけが資料として配られていました。5日にパネル信頼性に関する具体的な事例があったようで、そちらが興味あったのですが、4日に参加した感想を書きます。

まず、このシンポジウムは学究的な色彩が強かったと思います。5日の事例の報告を聞いていればもう少し印象が違っていたかもしれませんが、私が聞いていた範囲ではパネルの劣化メカニズムや評価方法などの評価・解析の報告が中心で、研究を行っている人には面白くても、単なる太陽電池のユーザーや発電所の運営者には少し縁遠い内容だったかなと思います。

さて、報告は長期の信頼性を対象にしているせいか、最近のモジュールに見られるスネイルトレイル（スネイルトラックと言っていた）についての言及はあまりありませんでした。スネイルトレイルは最近の安物モジュールだけに見られる現象なのか、どのような悪影響があるのか、もう少し様子を見ないと判らないのでしょう。いずれこのような報告会にももっと出てくるのを期待します。

全般的に、PIDに関する報告が意外に多かったように思います。PIDについては原因や対策が判ったのかと思っていましたが、まだ検討の余地があるようです。内容は細かい分析になっていて良く判りませんでした、すみません。

少し変わったところではモジュールに部分影が当たった時の影響についての報告がありました。部分影で生じたホットスポットがモジュールにどれぐらい悪影響を起こすか、というような内容でした。結果として5-7%も劣化を引き起こしていました。詳細の実験条件が良く判らなかったので何とも言えませんが、そんなに悪影響があるのかなという気もします。まぁ、パネルに影が当たるのはできるだけ避けた方が良いでしょう。

ところで、この会議は国際会議だったので発表が英語だったことも、普通の人は参加を躊躇させたかもしれません。ただ、最近の研究者は随分と英語がうまくなったと思っていましたが、この会議ではそうでもない人も多かったようです。普通、日本人の英語は日本人には聞きやすいのですが、日本人が聞いても理解できなくなるほど間違ったり詰まったりしている人も散見しました。ちょっとさみしい話ですね。