PERCというのはセルの裏面側の電流損失を減らすために保護膜で覆うのですが、全面を保護膜で覆うと電流が取り出せないので、細かい穴を無数に開けてそこから電流を取り出すという複雑な構造になっています。そういう無理な構造が原因になり劣化したのですかね。判りませんが・・・。

一方、HITの構造はシンプルですが、使っている膜がアモルファスSiと劣化がある材料なので心配はあります。ただ、今のところHITに劣化が多いという話はありません。

PERCとHITは同じ頃に（確か90年代）開発された技術で、PERCは欧州で、HITは日本で開発されました。この二つの技術は、いわば、ライバルのような関係ですが、世界ではPERCの方が主流で、HITは日本と中国の一部の会社が採用しているぐらいです。HITが劣勢なのが残念だなと思っていましたが、これでHITが巻き返してくれたら良いなと思います・・・、日本人ですからね。